El pasado 21 de mayo, los alumnos de primer curso del MUIPCM, realizaron una visita a los servicios de Microscopía Electrónica de la UPV situados en el campus de Vera en Valencia. Durante la visita los alumnos pudieron ver y conocer el funcionamiento de diferentes equipos empleados en la caracterización morfológica de materiales, como es el caso del Microscopio Electrónico de Barrido de Emisión de Campo (FESEM), el Microscopio Electrónico de Transmisión (TEM), el Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) o el Microscopio de Rayos X (XRM), este último adquirido recientemente por los servicios de microscopía. Durante la visita, los técnicos de los servicios de microscopía, explicaron a los alumnos el funcionamiento y el análisis de resultados de cada uno de los equipos y llevaron a cabo la caracterización de diferentes materiales para que pudiesen ver las imágenes obtenidas con cada una de las técnicas.